content="14/09/2022″/> Diktemeting
Logo Bodson Quality Control

Article groep

Discounter Weegschalen Controlegewichten Hardheid accessoires Hardheidsmeter Mecanische proeven Laboratorium ovens Visuele inspectie Meettoestellen Industriële markering Diktemeting
Laagdikte
Mechanisch Digitaal LC Minitest 70/650 Minitest 700 SmarTest Minitest 7400 Accessoires Coulometrisch Ultrasonisch
Ultrasone meter Beugel Arm Grote nauwkeurigheid Kalibratiecertificaat
Metallografie Metrologie Microscopen Reiniging Verf

Nieuwsbrief

Schrijf je in voor onze Nieuwsbrief

Information

Algemene verkoopvoorwaarden Gegevens

Minitest 7400

  • Topsegment laagdiktemeter met een brede selectie van externe en verwisselbare sensoren.
  • Grafische display zorgt voor directe weergave van statistische waarden, trend diagrammen, histogrammen en vereenvoudigde gebruiker begeleiding.
  • Het MiniTest 7400 laagdiktemeter toelaat metingen van niet-magnetische lagen (verf, synthetisch materiaal, chroom enz.) op een ferromagnetische substraat (staal) en isolerende lagen (vernis, glazuur, synthetisch materiaal enz.) op geleidende substraten (aluminium, koper, roestvrij staal).
  • Het MiniTest 7400 maakt het mogelijk om een breed scala van metingen te nemen, van de dunste lagen in het sub micrometer bereik (bijvoorbeeld gegalvaniseerd coatings), moeilijk geometrieën van de objecten (bv. meting van stalen pinnen, meting in uitsparingen en gaten, enz.) tot dikke coatings (b.v. brandvertragende lagen in staalconstructies, rubber lagen enz.).
  • De SIDSP sensoren zijn technologisch geavanceerde en uniek in hun nauwkeurigheid en de reproduceerbaarheid vanwege hun productieproces. Ondanks de hoge nauwkeurigheid, zijn de sensoren slijtvast en weerstaan jaren van gebruik zelfs op ruwe oppervlakken.
  • Verbeterd meetbereik en nauwkeurigheid: de relatie tussen het elektrische signaal en de gemeten dikte is een complexe relatie en moet een  linearisatie toegepast worden. Ondanks strikte toleranties heeft elke sonde enigszins verschillende kenmerken. In analoge apparaten, wordt de linearisatie in de meettoestel met een beperkt aantal punten gedaan en kan niet 'aangepast' voor elke sonde worden. In de SIDSP sensoren, de linearisatie curve wordt in elke sonde opgeslagen en automatisch tijdens de productie met meer dat 50 punten opgericht. Tijdens deze kalibratie slaat het ook veranderingen ten gevolge van temperatuurschommelingen voor automatische compensatie. Er zijn dus niet alleen meer precieze metingen, maar ook sensoren met hogere reeksen van meting en resolutie
  • Het MiniTest 7400 laagdiktemeter wordt beheerd via een grafische interface en biedt hulp functies zoals in een PC: context-specifieke help, indiening van lezingen in map structuren en menugestuurd navigatie met symbolen en tekst display. De begeleiding van de gebruiker is beschikbaar in 4 talen, anderen zijn in voorbereiding.

Sonde model
F0,5 (HD)
N0,2 (HD)
F1.5, N0.7, FN1.5 (HD)
F1.5-90, N0.7-90, FN1.5-90
F2 HD
F5, N2.5, FN5 (HD)
N7
F15
F35
Specificaties
F
N
F
N
F
N
F
F
N
N
F
F
Meetbereik
0 ... 0,5 m
0 ... 0,2 m
0…1,5 mm
0…0,7 mm
0…1,5 mm
0…0,7 mm
0…2 mm
0…5 mm
0…2,5 mm
0…7 mm
0…15 mm
0…35 mm
Toepassing
Kleine stukken, dunne bekledingen, gebruiken met een meetstand
Kleine stukken, dunne bekledingen, gebruiken met een meetstand
Buizen en pijpen of objecten met moeilijk toegankelijk
Ruwe oppervlakken
Standaard sensoren voor een breed bereik van toepassingen
Dikke lagen, dikte van wanden
Dikke lagen, dikte van wanden
Dikke lagen, dikte van wanden
Meetprincipe
Magnetisch inductieve
Wervelstroom
Magnetisch inductieve
Wervelstroom
Magnetisch inductieve
Wervelstroom
Wervelstroom
Magnetisch inductieve
Wervelstroom
Wervelstroom
Magnetisch inductieve
Magnetisch inductieve
Signaalverwerking
Sensor-geïntegreerde 32 bits signaalverwerking (SIDSP®)
Nauwkeurigheid
± (1 μm + 0,75% van de meetwaarde)
± (1,5 μm + 0,75% van de meetwaarde)
± (5 μm + 0,75% van de meetwaarde)
± (5 μm + 0,75% van de meetwaarde)
± (20 μm + 0,75% van de meetwaarde)
Herhaalbaarheid
± (0,5 μm + 0,5% van de meetwaarde)
± (0,8 μm + 0,5% van de meetwaarde)
± (2,5 μm + 0,5% van de meetwaarde)
± (2,5 μm + 0,5% van de meetwaarde)
± (10 μm + 0,5% van de meetwaarde)
Resolutie in lage bereik
0,02 μm
0,05 μm
0,1 μm
1 μm
1 μm
5 μm
Minimum radius convex
1,0 mm
1,0 mm
-
1,5 mm
15 mm
5 mm
50 mm
Minimum radius concaaf
7,5 mm
7,5 mm
5 mm
10 mm
25 mm
25 mm
50 mm
Minimum meetoppervlakte
zonder / met statief
Ø14 / Ø5 mm
Ø14 / Ø5 mm
Ø14 mm
Ø14 mm
Ø14 / Ø10 mm
Ø23 / Ø20 mm
Ø25 / Ø25 mm
Ø100 mm
Minimum substraatdikte
0,3 mm
40 μm
0,3 mm
40 μm
0,3 mm
40 μm
0,5 mm
0,5 mm
40 μm
40 μm
1 mm
1,5 mm
Sortie câble
0/90°
0/90°
0/90°
0/90°
0°
0°
0°
0/90°
0/90°
0/90°
0/90°
0/90°
Meetsnelheid in continu-modus
20 lezingen per sec
Max. meetsnelheid in single readings mode
70 lezingen per min


Details
Ontvang de juiste deals voor uw locatie; Selecteer uw land