Ruwheid standaard

Nauwkeurige metingen van de ruwheid van oppervlakte kunnen alleen maar met behulp van ruwheidsmeters met palpatie van het profiel van de oppervlakte gedaan worden en analyse van de resulterend gegevens. Vele verschillende modellen zijn beschikbaar, zich uitstrekkend van de goedkope ruwheidsmeettoestellen voor werkplaats tot de geavanceerde geautomatiseerde systemen van laboratorium, en gebruik makend van verschillende technologieën voor de meting, zoals de sondes met atoomkracht of radius laser, evenals gewoner methoden door contact met een naald in diamant.

Al deze instrumenten van ruwheidmeting moeten gecontroleerd worden en door middel van standaardoppervlakte met een precies bekende waarde van ruwheid/profiel gekalibreerd worden. Bijvoorbeeld, de totale verticale versterking van het systeem wordt met nauwkeurigheid door een oppervlakte met een reliëf, een groef of een vore van een bekende waarde gecontroleerd.

Anderen standaarden zullen noodzakelijk zijn (afhang van het soort instrument) om de lezing van parameter van ruwheid, filters, omvang en stand van de spits van de naald, versterking horizontaal en rechtheid te controleren. Dergelijke standaarden heten nauwkeurige referentie-meetstandaarden.

Precisie referentiestandaarden worden het vaakst gebruikt met meetinstrumenten van het stylustype contactoppervlak, zoals gestandaardiseerd in ISO 3274, maar worden steeds vaker gebruikt voor de controle van optische en contactloze instrumenten, in het bijzonder met betrekking tot de evaluatie van ruwheidsparameters.

Momenteel zijn referentiestandaarden voor stylusinstrumenten gestandaardiseerd in ISO 5436-1, waar ze fysieke metingen worden genoemd. In dit document zijn Type A-monsters staphoogtestandaarden, Type B wordt gebruikt om de stylusgrootte te verifiëren, Type C en D zijn respectievelijk normale en willekeurige profielmonsters om de prestaties van het instrument en de evaluatie van de parameters te verifiëren. De nieuwe ISO 25178-70-norm, die behoort tot de ISO 25178-familie van normen voor 3D-meetinstrumenten voor oppervlakken, omvat nu alle 2D-monsters beschreven in ISO 5436-1 en zal dit laatste document binnenkort vervangen.

Onze precisie-referentiemonsters zijn ofwel geëlektroformeerd nikkel, met een harde nikkel-boor beschermende toplaag (deze worden aangeduid met de letter E na het item #), of zonder deze top- of glaslaag.